标准成本结果
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标准成本结果

Fab · CP · 封测 三段标准成本构成,基于当前生效版本主数据基线

2024-10-01
单片标准成本(¥/片)
1,284.50
Fab 62% · CP 18% · 封测 20%
材料占比
34.2%
直接材料 + 化学品
折旧占比
28.7%
机台折旧 + 光罩摊销 + 厂务
良率口径
92.1%
[待确认] step-yield 卷积口径
Fab 前段
CP 针测
封测
合成汇总
Fab 前段 — 9 成本元素构成
step-yield 卷积后单位成本 · ¥/片
成本元素 单位成本(¥/片) 占 Fab 比 数据来源 备注
直接材料
硅片 + 晶盒 + 辅材
186.40 23.3% BOM 用量 × M1 物料价
化学品
按 BOM 用量 × 单价
54.20 6.8% BOM 化学品 × M1 单价
直接人工(DL)
人机比 × 工序工时
38.80 4.9% DL/IDL 人机比 × 定额
机台折旧
按 EQ Type 分摊
198.60 24.8% M1 EQ 成本属性
厂务(Facility)
按 EQ 面积系数分摊
72.30 9.0% EQ 面积 × 厂务单价
能源(电)
按 EQ 功率分摊
44.10 5.5% EQ 功率 × 电价
光罩摊销(Reticle)
年度金额 ÷ 投片量
120.50 15.1% RM 年度金额 ÷ 计划产量 [待确认]
委外加工
Outside 机时费
62.80 7.8% outside 机时费 × 工时
其他制造费用
IDL + 其他分摊
22.20 2.8% IDL 人机比 × 定额
Fab 合计(卷积后) 799.90 100% step-yield 卷积汇总

Step-Yield 卷积说明(占位,口径待确认)

Fab 标准成本按工序 step 顺序做 yield 卷积累计:
· Off-line 工步:不除 yield,成本直接累加;
· WAT(晶圆电性测试)工步:除以 WAT Yield(当前占位值:96.5%);
· WAT 后工步(Post-WAT):除以 Post-WAT Yield(当前占位值:95.2%)。
[待确认] Off-line/WAT/Post-WAT 工步分类口径需与工艺路线主数据对齐

CP 针测段 — PPN 四维合成 切换至「CP 针测」Tab 查看

合成逻辑:测试时间 × 机时费 / 良率 + 针卡每片折旧;区分 inside(XMC) / outside;PPN 四维(年度 × Business Type × Location × CP Platform)。
占位合计:¥ 231.20 / 片

封测段 — Subcon 分配合成 切换至「封测」Tab 查看

合成逻辑:Σ(6 家 subcon site 月价 × 分配比例);FT 按 Platform 同测数 × prod body 测试时间 / 良率合成单颗;封测一体报价可配置拆分。
[待确认] 封测一体拆分口径(G4) 占位合计:¥ 253.40 / 片

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